Ciastellardi, Matteo International Journal of McLuhan Studies 2012-2013 Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition Education Overload. From Total Surround to Pattern Recognition  Barcelona: Editorial UOC, S.L., 2013 · 186 p. · 0 x 0 cm · Libro electrónico · ISBN 978-84-9064-474-4 · 18 € · anglès
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